KEITHLEY 4200-SCS型半导体特征分析系统
- 发布在:常用仪表
- 发布时间:2024-08-06
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- 关键词:keithley, 吉时利keithley, 更多源测量仪器
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keithley吉时利4200-SCS的I-V特性测量:
keithley吉时利4200-SCS控制系统构建I-V衡量功用的基本点摸块是SMU (源衡量摸块) ;关键词:keithley, 吉时利keithley, 更多源测量仪器
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